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JTAG(Joint Test Action Group)
JTAG(Joint Test Action Group)은 전자 시스템, 특히 마이크로컨트롤러와 같은 집적 회로의 테스팅 및 디버깅을 위한 표준 인터페이스이다. JTAG은 처음에는 회로 보드의 제조 과정에서 결함을 검사하는 데 사용되도록 개발되었으나,
현재는 프로그래밍 및 디버깅 도구로도 널리 쓰이고 있다.
- JTAG의 주요 특징 및 기능
- 핀 및 신호:
JTAG 인터페이스는 일반적으로
TDI(Test Data In),
TDO(Test Data Out),
TCK(Test Clock),
TMS(Test Mode Select),
TRST(Test Reset)
라는 4개 또는 5개의 핀을 사용한다.
이 핀들을 통해 데이터와 명령어가 전송된다. - Boundary Scan:
JTAG의 주요 기능 중 하나는 바운더리 스캔이다.
이는 회로 보드의 물리적 접근 없이도 회로의 핀 상태를 검사하고 조작할 수 있게 해준다.
이를 통해 회로 보드의 제조 결함을 찾거나, 핀 레벨에서의 문제를 진단할 수 있다. - 디버깅 기능:
JTAG 인터페이스는 프로세서의 디버깅을 위한 매우 강력한 도구이다.
개발자는 JTAG를 통해 프로세서의 내부 상태를 읽고, 레지스터 값을 변경하며, 프로그램 카운터를 조작할 수 있다.
이를 통해 실시간으로 프로그램의 실행을 중단, 재개, 단계별 실행을 수행할 수 있다. - 프로그래밍:
JTAG를 마이크로컨트롤러나 FPGA와 같은 장치의 프로그래밍에도 사용된다.
이를 통해 플래시 메모리에 소프트웨어를 업로드하거나, 구성 데이터를 FPGA에 로드 할 수 있다. - 표준화와 호환성:
JTAG은 IEEE 1149.1 표준으로 정의되어 있으며, 이로 인해 여러 제조업체의 다양한 장치에서 호환성을 가지고 사용될 수 있다.
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